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▲ Analysis of pinhole defect 可整合到任何硅片分選機(jī)上 可調(diào)整式的演算法可供檢測(cè)5"、6"以及單晶、多晶、準(zhǔn)單晶等各種硅片 多樣化介面選擇可與不同設(shè)備或者M(jìn)ES系統(tǒng)連線 檢測(cè)晶格尺寸的特殊光源設(shè)計(jì)
▲ Examples of the grain-size inspection result on 7202
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