光伏硅片品質(zhì)檢測(cè)機(jī)
如果您對(duì)該產(chǎn)品感興趣的話,可以
產(chǎn)品名稱: 光伏硅片品質(zhì)檢測(cè)機(jī)
產(chǎn)品型號(hào): 7202
產(chǎn)品展商: Chroma
產(chǎn)品文檔: 無(wú)相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
可整合到任何硅晶圓分選機(jī)上
可調(diào)整式的算法可供檢測(cè)5"、6"以及單晶、多晶、類單晶等各種硅晶圓
多樣化接口選擇可與不同設(shè)備或者M(jìn)ES系統(tǒng)聯(lián)機(jī)
檢測(cè)晶格尺寸的特殊光源設(shè)計(jì)
光伏硅片品質(zhì)檢測(cè)機(jī)
的詳細(xì)介紹
產(chǎn)品特色
-
可整合到任何硅晶圓分選機(jī)上
-
可調(diào)整式的算法可供檢測(cè)5"、6"以及單晶、多晶、類單晶等各種硅晶圓
-
多樣化接口選擇可與不同設(shè)備或者M(jìn)ES系統(tǒng)聯(lián)機(jī)
-
檢測(cè)晶格尺寸的特殊光源設(shè)計(jì)
為了提供*高重復(fù)性的晶格尺寸檢測(cè)結(jié)果，Chroma在7202上頭使用了獨(dú)特的光學(xué)設(shè)計(jì)來(lái)強(qiáng)化晶格特征。而當(dāng)晶格尺寸可以被量化之后，分類好的硅片就可以套用于不同的生產(chǎn)工藝，拿來(lái)在不同的電池片生產(chǎn)線進(jìn)行生產(chǎn)，藉以提高電池片生產(chǎn)時(shí)候的平均轉(zhuǎn)換效率。
7202同時(shí)也可以檢測(cè)孔洞瑕疵。而孔洞瑕疵正是造成光伏模組失效的μ-crack或者嚴(yán)重local shunting的原因。
▲ Analysis of pinhole defect
-
可整合到任何硅片分選機(jī)上
-
可調(diào)整式的演算法可供檢測(cè)5"、6"以及單晶、多晶、準(zhǔn)單晶等各種硅片
-
多樣化介面選擇可與不同設(shè)備或者M(jìn)ES系統(tǒng)連線
-
檢測(cè)晶格尺寸的特殊光源設(shè)計(jì)
▲ Examples of the grain-size inspection result on 7202
