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光子學(xué)測(cè)試解決方案
光電二極體燒機(jī)及可靠度測(cè)試系統(tǒng)
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產(chǎn)品名稱:
光電二極體燒機(jī)及可靠度測(cè)試系統(tǒng)
產(chǎn)品型號(hào):
58606
產(chǎn)品展商:
Chroma
產(chǎn)品文檔:
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簡(jiǎn)單介紹
提供可靠度測(cè)試、壽命測(cè)試與老化測(cè)試 暗電流量測(cè)與崩潰電壓量測(cè) 每層模組提供256個(gè)四象限SMU通道 每通道*高可達(dá)80V **無突波SMU設(shè)計(jì)可保護(hù)敏感元件 每個(gè)SMU通道可由軟體控制做獨(dú)立輸出 各子模組可獨(dú)立控制 各夾具(carrier)獨(dú)立溫度控制
光電二極體燒機(jī)及可靠度測(cè)試系統(tǒng)
的詳細(xì)介紹
產(chǎn)品特色
提供可靠度測(cè)試、壽命測(cè)試與老化測(cè)試
暗電流量測(cè)與崩潰電壓量測(cè)
每層模組提供256個(gè)四象限SMU通道
每通道*高可達(dá)80V
**無突波SMU設(shè)計(jì)可保護(hù)敏感元件
每個(gè)SMU通道可由軟體控制做獨(dú)立輸出
各子模組可獨(dú)立控制
各夾具(carrier)獨(dú)立溫度控制
Chroma 58606是專為光電二極體設(shè)計(jì)的高密度、多功能、且具備溫度控制的模組式燒機(jī)及可靠度測(cè)試系統(tǒng)。每個(gè)模組內(nèi)建256個(gè)通道的SMU,可透過程式設(shè)定不同模式的電源輸出與量測(cè)。每個(gè)系統(tǒng)*多可安裝七層模組,共有1,792個(gè)SMU通道。
自動(dòng)定電流控制模式 (ACC)
在ACC模式下,程式會(huì)將每個(gè)通道控制在預(yù)先設(shè)定的輸出電流值,并達(dá)到長(zhǎng)時(shí)間的穩(wěn)定輸出。即使待測(cè)物的內(nèi)阻隨著時(shí)間或溫度產(chǎn)生波動(dòng),程式仍會(huì)控制SMU在整個(gè)燒機(jī)期間維持定值的電流輸出。而待測(cè)物的電壓值會(huì)在整個(gè)燒機(jī)期間定時(shí)的量測(cè),并且記錄下來,留待事后分析或作為出貨的判斷。
燒機(jī)溫度控制
**設(shè)計(jì)的加熱板能夠**地控制子模組內(nèi)的溫度,同時(shí)有很好的穩(wěn)定性與均溫性。與烤箱或溫控腔(oven or chamber) 類型的雷射二極體燒機(jī)系統(tǒng)比較,Chroma 58606的解決方案更加精簡(jiǎn)、容易操作,并具更佳的效能且更節(jié)省能源。使用加熱板的好處是,雷射二極體不會(huì)受到ESD的干擾,更少的粉塵與異物污染,以及容易維護(hù)。
高精準(zhǔn)探針接觸
58606使用特殊探針,即使如APD般小至 70um的焊盤,也能確保接觸。載具和針盤(DIB)會(huì)專為每個(gè)待測(cè)物進(jìn)行訂制,確保正確的接觸對(duì)位以進(jìn)行高精度探針接觸。
獨(dú)立的子模組操作
使用者可以在不同的子模組設(shè)定不同的溫度,在不同的時(shí)間開始執(zhí)行燒機(jī)測(cè)試,并設(shè)定不同的燒機(jī)時(shí)長(zhǎng)。獨(dú)立操作意味著每個(gè)子模組都可以設(shè)置不同的燒機(jī)條件,并且各子模組間互不干涉,提供給使用者*多的彈性。
保護(hù)機(jī)制及關(guān)閉個(gè)別通道
控制電路同時(shí)也包含雷射二極體的保護(hù),不會(huì)有電流或電壓的突波產(chǎn)生而傷害待測(cè)物;可設(shè)置各通道電流和電壓的上下限保護(hù),當(dāng)觸發(fā)上下限時(shí),會(huì)即時(shí)關(guān)閉個(gè)別通道來保護(hù)待測(cè)物。當(dāng)異常發(fā)生時(shí),系統(tǒng)將關(guān)閉特定引發(fā)異常的通道,其他正常通道仍可正常運(yùn)作。除了將保護(hù)功能設(shè)計(jì)在控制電路內(nèi),通道間的絕緣(Isolation)與靜電(ESD)保護(hù)也都包含在設(shè)計(jì)內(nèi)。
通訊中斷恢復(fù)后資料自動(dòng)寫入
老化測(cè)試資料儲(chǔ)存在系統(tǒng)的電腦中,當(dāng)模組與系統(tǒng)電腦通訊暫時(shí)中斷時(shí),資料可暫存于模組中約6~8小時(shí),通訊恢復(fù)連線之后,暫存于模組中的資料可自動(dòng)寫入系統(tǒng)電腦,不會(huì)有資料遺失。
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