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光子學(xué)測(cè)試解決方案
光電組件晶圓點(diǎn)測(cè)系統(tǒng)
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產(chǎn)品名稱:
光電組件晶圓點(diǎn)測(cè)系統(tǒng)
產(chǎn)品型號(hào):
58635-N 光電元件近場(chǎng)量測(cè)點(diǎn)測(cè)系統(tǒng)
產(chǎn)品展商:
Chroma
產(chǎn)品文檔:
無(wú)相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
依據(jù)ISO/IEC標(biāo)準(zhǔn) *大可測(cè)試6吋晶圓 寬廣的測(cè)試范圍與高精準(zhǔn)溫度控制 同時(shí)支持Pulse與CW模式操作 LIV量測(cè) : Model 58635-L 近場(chǎng)量測(cè) : Model 58635-N 遠(yuǎn)場(chǎng)量測(cè) : Model 58635-F 支持Multisite測(cè)試
光電組件晶圓點(diǎn)測(cè)系統(tǒng)
的詳細(xì)介紹
產(chǎn)品特色
依據(jù)ISO/IEC標(biāo)準(zhǔn)
*大可測(cè)試6吋晶圓
寬廣的測(cè)試范圍與高精準(zhǔn)溫度控制
同時(shí)支持Pulse與CW模式操作
LIV量測(cè) : Model 58635-L
近場(chǎng)量測(cè) : Model 58635-N
遠(yuǎn)場(chǎng)量測(cè) : Model 58635-F
支持Multisite測(cè)試
隨著光電組件的技術(shù)越趨成熟,應(yīng)用也越來(lái)越廣泛。其中,雷射二極管 (Laser Diode) 除通訊應(yīng)用外,也朝消費(fèi)性應(yīng)用擴(kuò)展。因應(yīng)此全新市場(chǎng),致茂電子藉由多年累積之光電量測(cè)技術(shù),開發(fā)專為消費(fèi)性應(yīng)用之光電組件晶圓點(diǎn)測(cè)系統(tǒng)Model 58635系列機(jī)種。
58635系列*大可測(cè)試6吋晶圓,并搭配致茂電子之精密測(cè)試儀器設(shè)備,如電流源與溫度控制器,能滿足雷射二極管測(cè)試之嚴(yán)苛要求,雷射二極管相關(guān)光電特性參數(shù)隨溫度變化而有所變異,58635系列機(jī)種精準(zhǔn)之溫度控制,能提供穩(wěn)定、準(zhǔn)確之量測(cè)數(shù)值。
Model 58635系列因應(yīng)不同測(cè)試需求,共包含3機(jī)種:58635-L,58635-N,以及 58635-F。
LIV量測(cè)系統(tǒng)
致茂電流源提供準(zhǔn)確穩(wěn)定之電流源以及電壓量測(cè),搭配積分球與光譜儀,提供準(zhǔn)確之光功率與波長(zhǎng)量測(cè)。藉由58635-L完整之軟件功能,所有LIV與波長(zhǎng)之相關(guān)參數(shù)均能在此量測(cè)。
近場(chǎng)量測(cè)系統(tǒng)
58635-N參照ISO關(guān)于雷射近場(chǎng)量測(cè)之相關(guān)規(guī)范,對(duì)于雷射二極管之光束傳播比例 (Beam Propagation Ratio)或光束質(zhì)量 (Beam Quality) 之相關(guān)參數(shù),提供精準(zhǔn)快速之量測(cè)。
遠(yuǎn)場(chǎng)量測(cè)系統(tǒng)
58635-F針對(duì)雷射二極管之遠(yuǎn)場(chǎng)光學(xué)特性進(jìn)行測(cè)量,諸如雷射之發(fā)光角度。另參照IEC人眼**相關(guān)規(guī)范,58635-F能于遠(yuǎn)場(chǎng)找尋光束*強(qiáng)之處,從而判斷是否符合人眼**相關(guān)規(guī)范。
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光電組件晶圓點(diǎn)測(cè)系統(tǒng) 58635-LN
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