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LED&驅(qū)動(dòng)器測(cè)試解決方案
光電元件點(diǎn)測(cè)機(jī)
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產(chǎn)品名稱:
光電元件點(diǎn)測(cè)機(jī)
產(chǎn)品型號(hào):
58212-C
產(chǎn)品展商:
Chroma
產(chǎn)品文檔:
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簡(jiǎn)單介紹
高速及高精度測(cè)試 支援水平結(jié)構(gòu)、垂直結(jié)構(gòu)和倒裝型芯片 支援到8英吋晶圓 支援不同電性測(cè)試范圍(LD或LED) 精準(zhǔn)快速對(duì)位的掃描程序 支援多點(diǎn)測(cè)試功能(multi-site) 支援a(chǎn)uto load/unload
光電元件點(diǎn)測(cè)機(jī)
的詳細(xì)介紹
產(chǎn)品特色
高速及高精度測(cè)試
支援水平結(jié)構(gòu)、垂直結(jié)構(gòu)和倒裝型芯片
支援到8英吋晶圓
支援不同電性測(cè)試范圍(LD或LED)
精準(zhǔn)快速對(duì)位的掃描程序
支援多點(diǎn)測(cè)試功能(multi-site)
支援a(chǎn)uto load/unload
Chroma 58212-C是一臺(tái)精準(zhǔn)控溫、多點(diǎn)測(cè)試、自動(dòng)化的外延片(Epitaxial Wafer)/芯片(Chip)探測(cè)針光電應(yīng)用測(cè)試設(shè)備,提供快速且準(zhǔn)確的光電性能量測(cè),廣泛的應(yīng)用于雷射二極體(Laser Diode)和發(fā)光二極體(Light-Emitting Diode)等產(chǎn)品。
58212-C的點(diǎn)測(cè)系統(tǒng)采用了靈活的設(shè)計(jì),提供不同類型的光電元件測(cè)試,包括水平結(jié)構(gòu)(Lateral)、垂直結(jié)構(gòu)(Vertical)和倒裝晶片(Flip Chip);測(cè)試前的掃描程序可提供完整的晶圓掃描圖以保證測(cè)試的精度;**探針頭可防止待測(cè)物刮傷并確保每一個(gè)芯片接觸。
此機(jī)型提供多點(diǎn)測(cè)試(multi-site)設(shè)計(jì),透過客制化的架構(gòu)可支援一次下針測(cè)試多點(diǎn)位置,此設(shè)計(jì)可穩(wěn)定測(cè)試并節(jié)省測(cè)試時(shí)間,增加測(cè)試效能。
透過Chroma的獨(dú)特光學(xué)設(shè)計(jì)可取得**且穩(wěn)定快速的光學(xué)數(shù)據(jù),如:光功率、中心波長(zhǎng)、峰值波長(zhǎng)、半峰全寬及色溫等。量測(cè)光學(xué)的同時(shí)也可獲取電性數(shù)據(jù),如:順向電流、順向電壓、漏電流、逆向崩潰電壓、斜率效率、光電轉(zhuǎn)換效率等,以上光電測(cè)試皆在一次下針的時(shí)間內(nèi)完成。
軟體操作介面及先進(jìn)的邏輯演算法,可使得生產(chǎn)效益大幅提升;完善的測(cè)試報(bào)表與良率統(tǒng)計(jì)供使用者輕松掌握生產(chǎn)狀況。
測(cè)試項(xiàng)目
電源特性量測(cè)
閾值電流 Threshold Current (Ith)
順向電壓 Forward Voltage (Vf)
漏電流 Reverse leakage Current (Ir)
逆向崩潰電壓 Reverse Breakdown (Vrb)
光特性量測(cè)
光功率 Optical Power (Po)
中心波長(zhǎng) Centre Wavelength (Wc)
峰值波長(zhǎng) Peak Wavelength (Wp)
半峰全寬 Full Width at Half Maximum (FWHM)
硬體設(shè)備
自動(dòng)化晶圓芯片點(diǎn)測(cè)設(shè)備
電性測(cè)試模組
光學(xué)測(cè)試模組
選配ESD測(cè)試模組 (LED適用)
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