除開外觀設(shè)計(jì)，其先進(jìn)的用戶界面，配合上12.1英寸超大觸摸屏與外接的鼠標(biāo)和鍵盤，讓工程師能更快的添加或刪除窗口，通道和跡線。SNA5000A支持在多個(gè)窗口下，添加多條跡線進(jìn)行S參數(shù)測(cè)量。并且測(cè)量結(jié)果，可以多種數(shù)據(jù)格式顯示，如 Log Mag，Lin Mag，Phase，Delay，Smith，SWR，Polar等，可以方便快捷地分析被測(cè)物的傳輸系數(shù)，反射系數(shù)，駐波比，阻抗匹配，相位，延時(shí)等參數(shù)。

在微波射頻領(lǐng)域，如何有效消除有害的測(cè)試夾具效應(yīng)是一大挑戰(zhàn)。比如在對(duì)SMD器件進(jìn)行測(cè)試時(shí)需要特定的測(cè)試夾具實(shí)現(xiàn)測(cè)試儀器測(cè)試端與器件輸入端的轉(zhuǎn)接，導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果中包含了測(cè)試夾具的特性。目前SNA5000A系列提供的去除測(cè)試夾具影響的方法主要有：端口延伸，端口匹配，端口阻抗轉(zhuǎn)換，去嵌入，適配器移除等。
另外，SNA5000A系列還支持TDR時(shí)域反射計(jì)測(cè)量功能，可在時(shí)域?qū)鬏斁€的特征阻抗，時(shí)延等參數(shù)進(jìn)行分析。