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半導(dǎo)體/IC測試解決方案
微型IC測試分類機(jī)
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產(chǎn)品名稱:
微型IC測試分類機(jī)
產(chǎn)品型號:
3270
產(chǎn)品展商:
Chroma
產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹
適合CMOS影像感應(yīng)組件量產(chǎn)需求 可靠的高速Pick&Place分類機(jī) 3x3mm微型IC處理能力 浮動頭可有效率平衡測試壓力 IC殘留檢測功能
微型IC測試分類機(jī)
的詳細(xì)介紹
產(chǎn)品特色
適合CMOS影像感應(yīng)組件量產(chǎn)需求
可靠的高速Pick&Place分類機(jī)
3x3mm微型IC處理能力
浮動頭可有效率平衡測試壓力
IC殘留檢測功能
Chroma 3270是一款**的微型IC測試分類機(jī),特別適合CMOS影像感應(yīng)元件(CMOS Image Sensor, CIS)量產(chǎn)所需,Chroma 3270可配合多種不同的封裝類型包括傳統(tǒng)的QFP、TQFP、μBGA、PGA及CSP封裝。 Chroma 3270采用Pick&Place技術(shù),可從JEDEC夾盤來拾取IC,移動到 測試位置,然后將測試后產(chǎn)品置于適當(dāng)之Tray盤。
Chroma 3270能同時處理32個待測物進(jìn)行平行測試,并提供50?C~125?C高溫測試選擇。不但能提高產(chǎn)量,提升生產(chǎn)良率,同時大幅降低測試成本。
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