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晶片測試分類機
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產(chǎn)品名稱:
晶片測試分類機
產(chǎn)品型號:
3112
產(chǎn)品展商:
Chroma
產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹
高信賴度之PnP自動化測試分類機 x4 多盤置入自動測試分類 全方位(X/Y/Z/θ)可調(diào)式探針座模塊 測式座產(chǎn)品堆棧檢測 x12輸出分類盤可程序設(shè)定輸出類別 全程實時良率顯示與控制 全程探針接觸狀態(tài)顯示(選配)
晶片測試分類機
的詳細介紹
產(chǎn)品特色
高信賴度之PnP自動化測試分類機
x4 多盤置入自動測試分類
全方位(X/Y/Z/θ)可調(diào)式探針座模塊
測式座產(chǎn)品堆棧檢測
x12輸出分類盤可程序設(shè)定輸出類別
全程實時良率顯示與控制
全程探針接觸狀態(tài)顯示(選配)
Chroma 3112具備單頭與多頭之適合量產(chǎn)的PnP 自動化芯片測試分類機,可藉由治具變更處理各種不同尺寸規(guī)格之芯片測試與分類。此設(shè)備透 過PnP方式將芯片自芯片盤加載至測試站中,**的測試后依據(jù)測試結(jié)果穩(wěn)定的放置于分類盤中。其高效率的模塊化設(shè)計與精準的機構(gòu)傳動 結(jié)構(gòu)可確保在高速運作下減少Jam Rate的量產(chǎn)要求,多重檢查功能裝置可降低待測物發(fā)生異常的損壞。
芯片測試運用此自動化測試分類技術(shù)不僅能提升 生產(chǎn)效率、減少人力需求,同時也增加了測試穩(wěn)定度及測試良率。此外,其簡潔的機臺設(shè)計更可節(jié)省機臺于測試廠之占地面積,幫助客戶大幅降低生產(chǎn)成本。
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