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無線射頻分類機(jī)
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產(chǎn)品名稱:
無線射頻分類機(jī)
產(chǎn)品型號:
3240-Q
產(chǎn)品展商:
Chroma
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簡單介紹
符合成本效益的RF整合方案 客制RF隔離室和整合Tester安裝 可調(diào)整測試間距至120mm 具有八個(gè)平行測試站點(diǎn) 支持的芯片尺寸從3x3 mm到45x45mm **的定位能力 支援JEDEC和EIA料盤
無線射頻分類機(jī)
的詳細(xì)介紹
產(chǎn)品特色
符合成本效益的RF整合方案
客制RF隔離室和整合Tester安裝
可調(diào)整測試間距至120mm
具有八個(gè)平行測試站點(diǎn)
支持的芯片尺寸從3x3 mm到45x45mm
**的定位能力
支援JEDEC和EIA料盤
3240-Q是一臺獨(dú)特且**、整合了射頻和無線隔離室之自動分類機(jī)。此機(jī)臺配置多達(dá)八個(gè)測試站點(diǎn)和獨(dú)立的隔離作平行測試。3240-Q具有順暢的自動化測試、**的Pick&Place技術(shù)、彈性的多測點(diǎn)架構(gòu)、高產(chǎn)能和低Jam Rate等優(yōu)勢,適用于射頻和無線芯片測試。
3240-Q也可依據(jù)測試需求支持各種不同類型封裝的芯片。具有自動送料/分料盤設(shè)計(jì),3240-Q適用于JEDEC和EIA料盤規(guī)范。另有選配的加強(qiáng)溫控的測試能力,可提供高達(dá)150℃之高溫測試環(huán)境。
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