產(chǎn)品特色
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12個通用插槽，全部插槽都可配置數(shù)字、模擬和混合信號集成電路測試單板使用
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多達768個數(shù)字和模擬測試通道
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時鐘頻率: 50 / 100 MHz
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數(shù)據(jù)速率: 100 / 200 Mbps （MUX）
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32 MW 向量存儲深度
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32 MW 向量指令存儲深度
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各數(shù)字通道均內(nèi)建 PPMU / 頻率量測單元
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2G SCAN向量存儲深度
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ALPG 功能可供存儲器測試使用 （可選配）
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多達48個高電壓通道
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多種規(guī)格VI浮動源單板
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64通道高密度電源供應單板 HDDPS2（可選配）
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高達3000V串聯(lián)輸出電壓模擬測試單板 HVVI（可選配）
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8通道波形發(fā)生器（AWG）加8通道數(shù)字化轉(zhuǎn)換器 （Digitizer）音頻頻段混合信號測試單板ASO （可選配）
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并聯(lián)80A脈沖電流模擬測試單板 MPVI （可選配）
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32通道模擬測試單板 VI45 （可選配）
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8通道高壓模擬測試單板 PVI100 （可選配）
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預留大面積測試接口板元器件擺放區(qū)域
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測試機配置大功率電源
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Microsoft Windows® 7 / Windows® 10 操作系統(tǒng)
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C++ 和 GUI 編程界面
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工具易用且完整的操作界面 CRISP
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提供其他測試平臺程序和向量轉(zhuǎn)換工具
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透過轉(zhuǎn)接套件可兼容其他測試平臺的測試接口板（PIB）與探針卡
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支持 STDF 格式數(shù)據(jù)輸出
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風冷式散熱設(shè)計，占地面積小
半導體制造為一發(fā)展迅速前進的產(chǎn)業(yè)。當待測器件的功能集成度變得越來越高時，生產(chǎn)設(shè)備需針對產(chǎn)品更新?lián)Q代與多個應用領(lǐng)域進行設(shè)計。Chroma 3650-S2具有靈活的配置，多種可選配功能，例如 AD / DA 轉(zhuǎn)換器測試、ALPG供內(nèi)存測試、高電壓PE、Multi-SCAN測試及模擬測試，使其能廣泛測試多種不同的裝置。3650-S2特別適用于測試電源管理類芯片，同時也可用于SoC產(chǎn)品測試，搭配多種不同的VI浮動電源選配板卡如HDDPS2、HVVI、PVI100和MPVI，可以達到3000V或160A的供電能力，涵蓋高精度、高電壓和大電流的測試需求。
3650-S2測試系統(tǒng)具備完整的測試功能、高精準度、強大的軟件和出色的可靠性，是測試高性能MCU、模擬芯片、消費性SoC的理想選擇，同時，憑借高產(chǎn)出和高并行的測試能力，3650-S2可為芯片設(shè)計公司、IDM和測試廠提供高性價比解決方案。
高性價比的高性能測試系統(tǒng)
Chroma 3650-S2具備高產(chǎn)出和高并行的測試能力，可為芯片設(shè)計公司、IDM和測試廠提供高性價比的解決方案，其完整的測試功能、高精準度、強大的軟件和出色的可靠性，使其成為測試電源管理類芯片、模擬芯片、化合物半導體及MCU的理想選擇。
3650-S2提供多種VI電源選配單板，如HDDPS2、HVVI、VI45、PVI100 和MPVI，包含高密度、高電壓、大電流、高精度量測功能，具備高達768個數(shù)字和模擬通道管腳以及模擬測試功能，可提供高測試性能、高產(chǎn)出，同時具有高性價比的測試解決方案。
高并行測試能力
3650-S2測試系統(tǒng)具有強大多功能的并行管腳電路（PE），因此可以同時在多個管腳進行相同的參數(shù)測試。3650-S2將64個數(shù)字通道管腳集成到一張LPC單板上，每張LPC單板包含16顆4通道的時序發(fā)生器的高性能Chroma PINF芯片。
單板上集成管理信號分配和數(shù)據(jù)讀出的控制芯片，因此減少了測試機系統(tǒng)控制器的負擔。3650-S2采用 any-pin-to-anysite mapping 設(shè)計，提供高達 32 sites 的高并行測試能力，通過靈活直觀地資源分配來促進大規(guī)模量產(chǎn)。
靈活的配置與廣泛的應用覆蓋范圍
半導體制造為一發(fā)展迅速前進的產(chǎn)業(yè)，生產(chǎn)設(shè)備須能使用于多個產(chǎn)品型號更替與應用領(lǐng)域，以延長設(shè)備使用期限。 Chroma 3650-S2提供AD/DA轉(zhuǎn)換器測試、ALPG供內(nèi)存測試、高電壓PE、Multi-SCAN測試及模擬測試等多種可選配功能，靈活的配置確保其能應對未來的測試需求。
Chroma 3650-S2測試系統(tǒng)能輕松整合第三方廠商為特定應用所開發(fā)的相關(guān)儀器設(shè)備，彈性結(jié)構(gòu)設(shè)計使其能涵蓋測試的裝置更廣泛，擴展了測試的覆蓋范圍。
占地面積小
Chroma 3650-S2采用風冷式散熱及高度集成的測試頭設(shè)計，占地面積小卻能提供高高產(chǎn)量。透過選配不同的支架，3650-S2可以應用于晶圓或封裝測試。
CRISP 完整軟件直觀操作環(huán)境
Chroma 3650-S2 采用Chroma整合軟件平臺CRISP，這是一套易于操作且功能強大的軟件工具，讓使用者可以高效地進行測試開發(fā)，其功能涵蓋調(diào)試、量產(chǎn)及數(shù)據(jù)分析等，整合了測試程序開發(fā)、測試執(zhí)行控制、數(shù)據(jù)分析、測試機管理等所有軟件功能，采用Microsoft Windows操作系統(tǒng)及C++程序語言，提供使用者強大、快速和友善操作的GUI工具。
在測試程序整合開發(fā)環(huán)境（Project IDE tool）內(nèi)，測試開發(fā)人員可以在標準模板、自定義模板和使用C++程序語言的編輯器之間輕松轉(zhuǎn)換，快速創(chuàng)建測試程序并自動擴展至多工位以便進行并行測試，此外，如果需從其他測試平臺轉(zhuǎn)移至3650-S2，CRISP還提供測試程序和測試向量轉(zhuǎn)換工具，除了提升設(shè)備整合開發(fā)彈性，也能降低轉(zhuǎn)移的時間成本。測試程序執(zhí)行控制器可以在System Control tool和Plan Debugger tool這兩種工具之間切換，讓使用者在量產(chǎn)或工程調(diào)試模式都能有效率地操作，使用者可以在Plan Debugger tool內(nèi)透過設(shè)置 breakpoint、step、step-into、step-over、resume execution、variable-watch及variablemodify來執(zhí)行測試程序的進程。
CRISP提供豐富軟件工具來進行工程調(diào)試和數(shù)據(jù)分析，包含Datalog、Waveform 及 Scope 工具可以清楚的顯示測量數(shù)據(jù)和數(shù)字波型，SHMOO 和Pin Margin工具可以透過自動或手動模式輕松地進行工程調(diào)試以找出邊沿參數(shù)，Wafer Map、Summary、Histogram 及STDF這些工具可以有效幫助搜集測試結(jié)果和分析測試指標，Test Condition Monitor 和 Pattern Editor 工具提供實時工程調(diào)試的進階功能，并且在不影響測試或調(diào)整源文件的狀況下，允許用戶調(diào)整測試條件或測試向量。另外，CRISP還為模擬測試和ALPG選配功能提供 ADDA tool 和 Bit Map tool，運用 ADDA tool 時，用戶不但可以透過圖形化工具來檢視AD/DA的測試結(jié)果，還能輕松自行創(chuàng)建ADC向量。這套強大的GUI工具可以完整地滿足你對于工程調(diào)試和生成測試報告的所有功能需求。
操作員界面（OCI）是使用于量產(chǎn)的操作界面，它能簡化并確保量產(chǎn)測試的正確運作，在讓操作員操作OCI之前，工程師可以事先在量產(chǎn)設(shè)置頁面（Production Setup）設(shè)定好量產(chǎn)時所需的相關(guān)參數(shù)，后續(xù)當操作員使用OCI時，只需選擇設(shè)定好的計劃即可執(zhí)行量產(chǎn)測試。
周邊設(shè)備
Chroma 3650-S2 提供多種驅(qū)動程序，可藉由GPIB和TTL協(xié)議與探針臺及分選機通訊，支援的探針臺及分選機包含CHROMA、 SEIKO-EPSON、HONTECH、SHIBASOKU、MULTITEST、ASECO、DAYMARC、TEL、TSK 和 OPUS 。除此之外，3650-S2提供與常見測試平臺的轉(zhuǎn)接方案，透過轉(zhuǎn)接套件使其能兼容其他測試平臺的測試接口板（PIB）與探針卡，以利測試平臺的轉(zhuǎn)移及降低轉(zhuǎn)移成本。
應用支持
Chroma為客戶提供應用支持，針對您的需求Chroma可提供您客制化的支持，不論您是需要提高產(chǎn)量、利用新興的市場機會提高生產(chǎn)力或是運用**的策略降低測試成本，Chroma的全球服務團隊都致力于為您提供及時有效的解決方案。
