高并行測試能力
3650-S2測試系統(tǒng)具有強大多功能的并行管腳電路（PE），因此可以同時在多個管腳進行相同的參數(shù)測試。3650-S2將64個數(shù)字通道管腳集成到一張LPC單板上，每張LPC單板包含16顆4通道的時序發(fā)生器的高性能Chroma PINF芯片。
單板上集成管理信號分配和數(shù)據(jù)讀出的控制芯片，因此減少了測試機系統(tǒng)控制器的負擔。3650-S2采用 any-pin-to-anysite mapping 設計，提供高達 32 sites 的高并行測試能力，通過靈活直觀地資源分配來促進大規(guī)模量產(chǎn)。
靈活的配置與廣泛的應用覆蓋范圍
半導體制造為一發(fā)展迅速前進的產(chǎn)業(yè)，生產(chǎn)設備須能使用于多個產(chǎn)品型號更替與應用領域，以延長設備使用期限。 Chroma 3650-S2提供AD/DA轉換器測試、ALPG供內(nèi)存測試、高電壓PE、Multi-SCAN測試及模擬測試等多種可選配功能，靈活的配置確保其能應對未來的測試需求。
Chroma 3650-S2測試系統(tǒng)能輕松整合第三方廠商為特定應用所開發(fā)的相關儀器設備，彈性結構設計使其能涵蓋測試的裝置更廣泛，擴展了測試的覆蓋范圍。
占地面積小
Chroma 3650-S2采用風冷式散熱及高度集成的測試頭設計，占地面積小卻能提供高高產(chǎn)量。透過選配不同的支架，3650-S2可以應用于晶圓或封裝測試。
CRISP 完整軟件直觀操作環(huán)境
Chroma 3650-S2 采用Chroma整合軟件平臺CRISP，這是一套易于操作且功能強大的軟件工具，讓使用者可以高效地進行測試開發(fā)，其功能涵蓋調(diào)試、量產(chǎn)及數(shù)據(jù)分析等，整合了測試程序開發(fā)、測試執(zhí)行控制、數(shù)據(jù)分析、測試機管理等所有軟件功能，采用Microsoft Windows操作系統(tǒng)及C++程序語言，提供使用者強大、快速和友善操作的GUI工具。
在測試程序整合開發(fā)環(huán)境（Project IDE tool）內(nèi)，測試開發(fā)人員可以在標準模板、自定義模板和使用C++程序語言的編輯器之間輕松轉換，快速創(chuàng)建測試程序并自動擴展至多工位以便進行并行測試，此外，如果需從其他測試平臺轉移至3650-S2，CRISP還提供測試程序和測試向量轉換工具，除了提升設備整合開發(fā)彈性，也能降低轉移的時間成本。測試程序執(zhí)行控制器可以在System Control tool和Plan Debugger tool這兩種工具之間切換，讓使用者在量產(chǎn)或工程調(diào)試模式都能有效率地操作，使用者可以在Plan Debugger tool內(nèi)透過設置 breakpoint、step、step-into、step-over、resume execution、variable-watch及variablemodify來執(zhí)行測試程序的進程。
CRISP提供豐富軟件工具來進行工程調(diào)試和數(shù)據(jù)分析，包含Datalog、Waveform 及 Scope 工具可以清楚的顯示測量數(shù)據(jù)和數(shù)字波型，SHMOO 和Pin Margin工具可以透過自動或手動模式輕松地進行工程調(diào)試以找出邊沿參數(shù)，Wafer Map、Summary、Histogram 及STDF這些工具可以有效幫助搜集測試結果和分析測試指標，Test Condition Monitor 和 Pattern Editor 工具提供實時工程調(diào)試的進階功能，并且在不影響測試或調(diào)整源文件的狀況下，允許用戶調(diào)整測試條件或測試向量。另外，CRISP還為模擬測試和ALPG選配功能提供 ADDA tool 和 Bit Map tool，運用 ADDA tool 時，用戶不但可以透過圖形化工具來檢視AD/DA的測試結果，還能輕松自行創(chuàng)建ADC向量。這套強大的GUI工具可以完整地滿足你對于工程調(diào)試和生成測試報告的所有功能需求。
操作員界面（OCI）是使用于量產(chǎn)的操作界面，它能簡化并確保量產(chǎn)測試的正確運作，在讓操作員操作OCI之前，工程師可以事先在量產(chǎn)設置頁面（Production Setup）設定好量產(chǎn)時所需的相關參數(shù)，后續(xù)當操作員使用OCI時，只需選擇設定好的計劃即可執(zhí)行量產(chǎn)測試。
