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半導體/IC測試解決方案
VLSI 測試系統(tǒng)
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產(chǎn)品名稱:
VLSI 測試系統(tǒng)
產(chǎn)品型號:
3380D
產(chǎn)品展商:
Chroma
產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹
50/100 MHz測試頻率 50/100 Mbps數(shù)據(jù)速率 256數(shù)字信道管腳 并行測試可達256 sites同測數(shù) 32/64/128 M Pattern內存 多樣彈性VI電源 彈性化硬件結構 (可互換式 I/O, VI, ADDA) Real parallel Trim/Match功能 時序頻率測試單位 (TFMU) AD/DA功能板卡 (16/24 bits) (可選配) SCAN向量存儲深度(*高 2G bits/chain) (可選配) ALPG測試選配供內存IC用 STDF工具支持 測試程序/pattern轉換器 (J750, D10, V50,E320, SC312, V7, TRI-6020, ITS9K) 人性化Window 7操作系統(tǒng) CRAFT C/C++ 程序語言 軟件接口與3380P/3360P相同 Direct mount治具
VLSI 測試系統(tǒng)
的詳細介紹
產(chǎn)品特色
50/100 MHz測試頻率
50/100 Mbps數(shù)據(jù)速率
256數(shù)字信道管腳
并行測試可達256 sites同測數(shù)
32/64/128 M Pattern內存
多樣彈性VI電源
彈性化硬件結構 (可互換式 I/O, VI, ADDA)
Real parallel Trim/Match功能
時序頻率測試單位 (TFMU)
AD/DA功能板卡 (16/24 bits) (可選配)
SCAN向量存儲深度(*高 2G bits/chain) (可選配)
ALPG測試選配供內存IC用
STDF工具支持
測試程序/pattern轉換器 (J750, D10, V50,E320, SC312, V7, TRI-6020, ITS9K)
人性化Window 7操作系統(tǒng)
CRAFT C/C++ 程序語言
軟件接口與3380P/3360P相同
Direct mount治具可相容于3360P probe-card
Cable mount治具可相容于3360D與3360P
為因應未來IC芯片腳位數(shù)更多、速率更高、整合功能更為復雜的發(fā)展驅勢,Chroma VLSI測試系統(tǒng)3380D/3380P/3380除采用更彈性架構外,整合密度更高,且功能更強大。
3380D/3380P/3380機型為因應高同測功能(High Parallel Test),除內建獨特的4-wire功能高密度IC電源(VI source)外,更具備any-pins-to-any-site高同測功能(256數(shù)字信道管可并行測256個測試芯片),以因應未來IC芯片更高的測試需求。
3380D/3380P/3380系列同時具備機框式直流電源供應的小型化、低耗能化設計及非常具競爭性的機臺性價比。
3380D VLSI測試系統(tǒng)非常適合應用于IoT相關的芯片測試,尤其是一些具成本壓力的組件如整合功能之MCU、MEMS等,VLSI測試系統(tǒng)3380D/3380P/3380系列開發(fā)至今,已在大中華地區(qū)被廣泛的采用。
滿足各種應用范圍的芯片測試
如Logic, ADDA, RF(MCU), LED, Power, ALPG, Match等
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