組件測試掃描儀
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產(chǎn)品名稱: 組件測試掃描儀
產(chǎn)品型號: A130000 6 BNC測試連接線
產(chǎn)品展商: Chroma
產(chǎn)品文檔: 無相關(guān)文檔
簡單介紹
支持組件測試掃描用
單一主機支持8插槽模塊，*多可支持320通道
選配A130007 40 Channels掃描模塊，支持絕緣電阻測試，其*高可輸入500V直流電壓(靜態(tài)耐壓)
透過主/從接口可做多臺聯(lián)機掃描，*多可支持8臺受控
可支持Chroma LCR表
可支持Chroma 3302/3252/11025圈數(shù)比(turn ratio)功能
可支持Chroma 11200電容漏電流/
組件測試掃描儀
的詳細介紹
產(chǎn)品特色
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支持組件測試掃描用
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單一主機支持8插槽模塊，*多可支持320通道
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選配A130007 40 Channels掃描模塊，支持絕緣電阻測試，其*高可輸入500V直流電壓(靜態(tài)耐壓)
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透過主/從接口可做多臺聯(lián)機掃描，*多可支持8臺受控
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可支持Chroma LCR表
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可支持Chroma 3302/3252/11025圈數(shù)比(turn ratio)功能
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可支持Chroma 11200電容漏電流/絕緣電阻表的絕緣電阻測試功能
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標準 RS232，GPIB與USB接口
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可支持Chroma 8800組件自動測試系統(tǒng)
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支持ICT應用測試
近幾年來由于組件變得更加復雜與多通道等復合性問題，使測試困難與結(jié)構(gòu)變得復雜，增加人為錯誤可能性與人力成本。Chroma 13001提供多信道掃描功能，搭配 Chroma 3302 / 3252 / 11022 / 11025 LCR 表做電感值、電容值、電阻值等量測，并包含圈數(shù)比(turn ratio) 量測 (如果LCR表有提供此功能)，也可以與Chroma 11200 電容漏電流/絕緣電阻表配合絕緣電阻測試，并有專為漏感量測的短路設計。單臺可以支持8插槽模塊，當搭配8個選配 A113007 的 40 Channels 掃描模塊，單臺可多達320通道。并提供主/從設計，客戶可經(jīng)由主機標準的RS-232、GPIB或USB接口控制主機本身輸出的測試回路，與包含外接擴充高達8臺的受控主機的部份，以滿足客戶更多通道數(shù)需求。
Chroma 13001支援Chroma 8800組件自動測試系統(tǒng)，提供多步驟的測試程序，滿足多樣化測試應用，如提供RJ-45設備(包含LAN 模塊，Ethernet IC，PoE IC等)、玻璃基板(包含太陽能板)、LCD 玻璃基板、玻璃印刷電路(包含觸控屏幕touch panel等)、PCB、電路基板、EMI Filter、充電電池測試、ICT應用等應用測試客戶?？梢越Y(jié)合 Chroma 8800組件自動測試系統(tǒng)提供過程控制與數(shù)據(jù)收集功能。搭配自動化可節(jié)省人力成本、減少人為疏失錯誤、提升數(shù)據(jù)管理質(zhì)量與效率。
