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產(chǎn)品資料

電池芯絕緣測試器

如果您對該產(chǎn)品感興趣的話,可以
產(chǎn)品名稱: 電池芯絕緣測試器
產(chǎn)品型號: A112102 局部放電日常檢驗器
產(chǎn)品展商: Chroma
產(chǎn)品文檔: 無相關(guān)文檔

簡單介紹

測試電壓：*高1KV (dc) 充電電流：*大50mA 寬范圍的漏電流量測(1pA ~ 20mA) 針對鋰電池潛在的內(nèi)部短路問題，執(zhí)行局部放電(Partial Discharge)/電氣閃絡(luò)(Flashover)之偵測(選購項目 A112100)： 局部放電強(qiáng)度及次數(shù)的偵測與顯示 在電壓/電流波形上，對局部放電做監(jiān)控 可設(shè)定局部放電之強(qiáng)度作為測試通關(guān)之條件 可實時顯示和儲存發(fā)生局部


電池芯絕緣測試器  的詳細(xì)介紹
產(chǎn)品特色
  • 測試電壓：*高1KV (dc)
  • 充電電流：*大50mA
  • 寬范圍的漏電流量測(1pA ~ 20mA)
  • 針對鋰電池潛在的內(nèi)部短路問題，執(zhí)行局部放電(Partial Discharge)/電氣閃絡(luò)(Flashover)之偵測(選購項目 A112100)：
    • 局部放電強(qiáng)度及次數(shù)的偵測與顯示
    • 在電壓/電流波形上，對局部放電做監(jiān)控 
    • 可設(shè)定局部放電之強(qiáng)度作為測試通關(guān)之條件
    • 可實時顯示和儲存發(fā)生局部放電時的電壓/電流波形 (選購項目 A112101)
  • 內(nèi)建+瞬時高壓測試 (+Flash Test)功能
  • 內(nèi)建快速的接觸檢查功能
  • 依順序自動執(zhí)行測試程序：充電→保持→測量→放電
  • 快速量測 (20ms)
  • 全彩顯示的觸控式螢?zāi)?/span>
  • 標(biāo)準(zhǔn)Handler 介面以及USB、RS-232、Ethernet 等通訊介面
應(yīng)用領(lǐng)域
  • 專門針對鋰電池干電芯之絕緣測試
  • 各式各樣電容產(chǎn)品(固態(tài)電容、積層陶瓷電容MLCC、高壓電解電容HV-ELCAP、塑膠膜電容Film Cap)或特殊絕緣材料之絕緣測試
Chroma 11210電池芯絕緣測試器是專為鋰電池干電芯之漏電流(LC)或絕緣電阻(IR)異常檢出而量身打造的絕緣測試器，亦可量測固態(tài)電容、積層陶瓷電容(MLCC)、高壓電解電容與絕緣材料。不僅具備標(biāo)準(zhǔn)的LC/IR量測外，更設(shè)計「于高壓量測過程中，可針對絕緣體內(nèi)強(qiáng)烈的局部放電(Partial Discharge, PD)或電氣閃絡(luò)(Flashover)進(jìn)行偵測與分析(以下簡稱"PD偵測功能")」，此功能可協(xié)助檢測出鋰離子電池干電芯在電解液填充前的有效絕緣距離是否足夠，避免潛在**品進(jìn)入下一生產(chǎn)階段或流入終端市場。相對于傳統(tǒng)的絕緣測試，11210提升了鋰離子電池驅(qū)動之電子電氣產(chǎn)品和電動車的**性及絕緣材料品質(zhì)檢測領(lǐng)域到新的境界。
Chroma 11210使用特殊電路設(shè)計提供PD偵測功能，全程監(jiān)測測試過程中電芯內(nèi)是否曾經(jīng)發(fā)生過因局部異常放電而產(chǎn)生的異常電氣閃絡(luò)并量化為可視程度并同時記錄波形。在達(dá)到測試電位后，測試時間內(nèi)也會與一般耐壓或絕緣測試器一樣進(jìn)行漏電流或絕緣電阻值測量判定異常。+瞬時高壓測試(+Flash)功能提供兩階段間斷式高低電壓，分別檢測待測物在高壓時耐壓特性以及低壓下漏電流表現(xiàn)，獨立的判定漏電流大小以及PD檢出功能，可以有效作用于各種儲能元件。
Chroma 11210的高水平充電電流和快速的量測電路，將整體測試速度大幅提升，對一般電容性待測物做的絕緣測試，均可細(xì)分為四個程序：充電→判定延遲→測量→放電，且*快能在20ms內(nèi)自動的依序執(zhí)行一個完整的測試，明顯提升生產(chǎn)線的效率。在漏電流量測上，從*小1pA至*大20mA細(xì)分為7個檔位以達(dá)到精準(zhǔn)的LC/IR量測。此外，Auto-range功能可自動切換至*佳檔位執(zhí)行量測，省卻使用者的時間并確保量測之精準(zhǔn)度。
接觸檢查對于絕緣測試的可靠性有決定性之影響，在整個量測過程中，“沒有接觸”也很有可能被判定為良品，此誤判會使**品進(jìn)入市場，若待測物的絕緣電阻非常高，此誤判情形會更明顯；所以一般而言，絕緣測試的過程中必須進(jìn)行接觸檢查，Chroma 11210使用高階電路架構(gòu)，能在5ms內(nèi)執(zhí)行一次完整的接觸檢查，并可選擇量測前執(zhí)行、量測后執(zhí)行或量測前后皆執(zhí)行。




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