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C測(cè)試儀
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產(chǎn)品名稱:
C測(cè)試儀
產(chǎn)品型號(hào):
3504-40
產(chǎn)品展商:
日本日置
產(chǎn)品文檔:
無(wú)相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
C測(cè)試儀3504-40封裝機(jī)、分選機(jī)、電容器的合格與否的判斷和等級(jí)分類等 高速測(cè)量2ms 能根據(jù)C 和D (損耗系數(shù)*2)的測(cè)量值,進(jìn)行被測(cè)物合格與否的判斷 對(duì)應(yīng)測(cè)試線,比較器功能/觸發(fā)輸出功能 3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測(cè)物體的測(cè)試 3504-40記錄工具,實(shí)現(xiàn)高速/低成本的測(cè)試 查出全機(jī)測(cè)量中的接觸錯(cuò)誤,提高成品率
C測(cè)試儀
的詳細(xì)介紹
C測(cè)試儀3504-40封裝機(jī)、分選機(jī)、電容器的合格與否的判斷和等級(jí)分類等
高速測(cè)量2ms
能根據(jù)C 和D (損耗系數(shù)*2)的測(cè)量值,進(jìn)行被測(cè)物合格與否的判斷
對(duì)應(yīng)測(cè)試線,比較器功能/觸發(fā)輸出功能
3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測(cè)物體的測(cè)試
3504-40記錄工具,實(shí)現(xiàn)高速/低成本的測(cè)試
查出全機(jī)測(cè)量中的接觸錯(cuò)誤,提高成品率
輸入用探頭/測(cè)試夾具,實(shí)體不附帶。按照測(cè)量目的,不同型號(hào)有不同的探頭/測(cè)試夾具選件
C測(cè)試儀3504-40基本參數(shù)
測(cè)量參數(shù)
C
s,
C
p(電容),
D
(損耗系數(shù)tanδ)
測(cè)量范圍
C:
0.9400pF~20.0000mF
D:
0.00001~1.99000
基本精度
(代表值)
C:
±0.09% rdg. ±10 dgt.,
D:
±0.0016
※測(cè)定精度= 基本精度× B× C× D× E, B~E為各系數(shù)
測(cè)量頻率
120Hz, 1kHz
測(cè)量信號(hào)電平
恒定電壓模式: 100mV (**3504-60), 500 mV, 1 V
測(cè)量范圍:
CV 100mV:~ 170μF 量程 (測(cè)量頻率 1kHz), ~ 1.45mF 量程 (測(cè)量頻率 120Hz)
CV 500mV: ~ 170μF 量程 (測(cè)量頻率 1kHz), ~ 1.45mF 量程 (測(cè)量頻率 120Hz)
CV 1V: ~ 70μF 量程 (測(cè)量頻率 1kHz), ~ 700μF 量程 (測(cè)量頻率 120Hz)
輸出電阻
5Ω
(CV測(cè)量范圍以外的開(kāi)路端子電壓模式時(shí))
顯示
發(fā)光二級(jí)管 (6位表示,滿量程計(jì)算器根據(jù)量程而定)
測(cè)量時(shí)間
典型值: 2.0 ms ( 1 kHz, FAST)
※測(cè)量時(shí)間根據(jù)測(cè)量頻率、測(cè)量速度的不同而不同
功能
BIN分類測(cè)量 (3504-40除外), 觸發(fā)同步輸出, 測(cè)量條件記憶, 測(cè)量值的比較功能, 平均值功能, Low-C拒絕功能, 振動(dòng)功能, 控制用輸出輸入 (EXT. I/O), RS-232C接口(標(biāo)配), GP-IB接口(3504-40除外)
電源
AC 100/120/220/240V ±10%
(可選擇)
, 50/60Hz, *大110VA
體積及重量
260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg
附件
電源線×1,預(yù)備電源保險(xiǎn)絲×1,使用說(shuō)明書×1
(不能單獨(dú)使用,測(cè)量時(shí)需要選用測(cè)試冶具或探頭)
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