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半導(dǎo)體/IC測試解決方案
終端測試分類機
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產(chǎn)品名稱:
終端測試分類機
產(chǎn)品型號:
Model 3160
產(chǎn)品展商:
Chroma
產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹
3160/3160-A有著高可靠性的處理機制可依據(jù)測試需求支援各種不同類型封裝的晶片, 且能與通用生產(chǎn)治具相容,順暢的自動化技術(shù)滿足高產(chǎn)能和低Jam Rate的量產(chǎn)要求。此 外,可調(diào)式的壓測力和位置校正以及各種感應(yīng)裝置可降低待測物發(fā)生突如其來的損壞, 和幫助延長socket的使用期,同時保持或提升產(chǎn)能的良率。
終端測試分類機
的詳細介紹
主要特色:
9Kpcs 產(chǎn)能
可設(shè)定的待測物間距
可側(cè)邊安裝tester
壓閥式受測物防護機
智慧型IC殘留檢測
測試良率控制
通用治具
工程級機臺自動校正功能
進階版ESD標準
1*4 DUT架構(gòu) (Model 3160)
1*4或2*2 DUT架構(gòu) (Model 3160-A)
空載盤自動堆迭 (選購) (Model 3160-A)
主動式熱控模組 (選購) (Model 3160-A)
馬達 Arm Z (Model 3160-A)
氣缸式側(cè)推功能 (Model 3160-A)
3160/3160-A是一款適合量產(chǎn),高產(chǎn)出且多平行測試站點的高速IC測試分類機。此分類機 運用Pick & Place技術(shù),能夠配合多種封裝類型并按照測試結(jié)果將它們排序分類予分料盤 中。 其高效率的模組化設(shè)計與精準的機構(gòu)傳動結(jié)構(gòu)可確保在高速運作下,機臺量測之重 覆性,并有助于增加機臺使用之穩(wěn)定性與維護之便利性。此外,其簡潔的機臺設(shè)計更可 節(jié)省機臺于測試廠之占地面積,幫助客戶大幅降低生產(chǎn)成本。進階款3160-A更可按照客 戶測試條件需求搭配Chroma*新研發(fā)的主動式熱控模組(ATC)達到精準的常、高溫測 試溫度要求。
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