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半導(dǎo)體/IC測試解決方案
雙用單站測試分類機(jī)
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產(chǎn)品名稱:
雙用單站測試分類機(jī)
產(chǎn)品型號:
Model 3110
產(chǎn)品展商:
Chroma
產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹
是一臺雙用單站的 Pick & Place 測試分類 機(jī),支援各種不同類型封裝的晶片, QFN, Flip-Chip, TSOP等。此分 類機(jī)運用 Pick & Place 技術(shù), 將待測晶片由進(jìn)料艙 移至測試區(qū),再依測試結(jié)果進(jìn)行分類。3110 不 但適用于系統(tǒng)功能檢測,也同時具備終端電性測 試的能力??删C合各元件的整體效能并執(zhí)行測試 系統(tǒng)上的所有測試程式,旨在提供一個全能的解 決方案。
雙用單站測試分類機(jī)
的詳細(xì)介紹
主要特色:
雙用單站測試分類機(jī)
適用于終端測試或系統(tǒng)功能測試
自動進(jìn)料出料艙的配置及依測試結(jié)果自動分類的功能
測頭內(nèi)建氣室,可吸收及減緩下壓觸力的沖擊
智能型的載盤IC殘留偵測
可選配的三溫控制系統(tǒng) (-40~135℃)
可選配的高功率冷卻系統(tǒng)
理想的產(chǎn)品工程或研發(fā)實驗設(shè)備機(jī),可自動搜集與分析測試、實驗結(jié)果的數(shù)據(jù)
支援的晶片尺寸從 3x3mm 到 55x55mm,配備有 自動進(jìn)出料分類艙及手動分類盤,可*優(yōu)化工程 測試的實驗數(shù)量。簡易操作的操控畫面,及適配 性高的testers連接介面,大幅提升機(jī)臺的使用率 及共用性。除此之外,它能針對不同的測試環(huán)境 條件,提供數(shù)個溫控系統(tǒng)的選擇,如三溫控制系 統(tǒng)、高功率冷卻系統(tǒng)等,測試的環(huán)境溫度可設(shè)置 于常溫、高溫或低溫。
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